轻松输入或输出不同wafer map文件格式,例如: KLARF, (S)INF, G85,或是其他格式让你可以完整地追溯. 缺陷或测试位置显示在wafer map中,直接点取画面可自动移动至点选位置来进行测试或分析。
使用2D条码读取器来快速启动测试程序。 扫描QR码或条码后,将自动开启自动化,测试方法或窗体。
为了获得更好的可追溯性,您可以使用自定义表格来存储其他数据以及测量结果。
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